阻抗分析仪
阻抗分析仪可以测量和评估各种设备和设备的参数和性能，例如压电陶瓷片，压电传感器，超声波清洁器，超声波焊接机，超声波粉碎机和超声波处理设备。
判断纳米圆和电导率曲线，更直观，更实用。
在异常情况下，导纳圆和电导曲线如下：2。
参数，曲线和器件之间的关系对于换能器：导纳圆不能出现寄生谐振频率应尽可能接近设计频率，动态阻抗应低，质量因数Qm应接近设计要求，电容应与电路匹配。
对于压电陶瓷件，可以从导纳图和对数坐标直接判断该装置的优缺点。
如果陶瓷片内部出现分层，或出现裂缝，则对数曲线将出现多峰，导纳图上会出现多个寄生小圆圈。
喇叭的设计，加工和装配是否合理或有缺陷，直接在导向圆图上可见。
对于超声波焊接机的生产和加工，通过导纳圆的结果分析焊接机的状态，并通过参数。
并通过图形分析找出焊机的问题。
对于超声波清洗机的生产和加工：振动器的选择要求其振动性能尽可能一致(带宽，品质因数，共振频率，动态阻抗)。
尽可能在谐振点附近没有寄生圆或没有寄生圆。
它可以分析和测量传感器制造，来料检查，粘合传感器和清洗机的阻抗特性。
机器测量可以校准机器的谐振频率和静态电容以匹配电源。
它可以分析其新的共振点，注水后的阻抗，整机的电容和振动模式。
1.基本精度：0.05 [%] 2.频率精度：±0.005 [%] 3.测量参数：Z，L，C，R，Q，D，Y，G，B，X 4.输出：10mV至1V rms，200uA至20mA rms 5显示格式：串行/并联电路，或双极型6.图形分析模式：根据频率和直流偏置源扫描可选的两个参数。
7.仪表模式：可用作标准LCR仪表。
连接到9，有许多可选配件可满足不同的测试需求。
10，消耗因子：±0.0005(1 + D * D2)11，品质因数：±0.05 [%](Q + 1 / Q)测量参数：| Z |，| Y |，θ，R，X，G， B，L，C，D，Q可提供12种参数组合测试频率：100Hz~40MHz(电缆长度：0m)振子级：10mV~1Vrms(≤10MHz)，10mV~0.5Vrms(& 10MHz) ; (UNKNOWN开路)，3位分辨率DC偏移：0~±40V，10mV分辨率测量端子：4端子对配置测量范围和最大分辨率测量参数范围最大分辨率基本测量精度：0.17 [%]电平监控：1mV ~1 Vrms，1μA~20mA增益相位测量测量参数：Tch / Rch(dB，线性比); Tch，Rch(V，dBm，dBv)，θ(度，弧度); Tch =测量通道：Rch =参考通道，g =群延迟10 Hz~100 MHz，1 mHz分辨率孔径频率范围:(群延迟测量)频率间隔0.5 [%] ~100 [%]振荡器电平：-65dBm~ + 15dBm，0.1dB分辨率测量范围Tch / Rch：0~±120dB，分辨率0.001dB; Tch，Rch：-107dBm~-5dBm(0dB衰减器)，-87dBm~ + 15dBm，(20dB衰减器); 0.001dB，分辨率：θ：±180°(使用相位标度扩展功能，连续显示相位)0.01°分辨率; g：0.1ns~1s，0.1ns分辨率基本测量精度：Tch / Rch：0.1dB，0.5°; Tch，Rch：0.35dBm电平监控：以dBm，dBV和V监控参考和测试通道的输入电平。
使用4194A / B进行阻抗测量以下规格适用于agilent4194A和agilent4194A / B的组合。
频率范围：10kHz~100MHz，1mHz分辨率振荡器电平：选项350：10mV~1.28Vrms;选项375：10mV~1.54Vrms直流偏移：内部：±40V，±20mA;外部：±150V，±500mA，最大25W测量范围：100mΩ~1MΩ基本测量精度：±1.5 [%] ~3 [%](≥100kHz)，±3 [%] ~6 [%](& lt ; 100kHz)电缆长度：Agilent4194A：1.5m，Agilent4194B：3m阻抗分析仪主要用于测量各种超声波设备的阻抗特性，包括：压电陶瓷，替代能源，超声波清洗机，超声波塑料焊接机，水下声学，磁致伸缩材料，超声波粉碎机，超声波雾化，超声波清洗，倒车雷达，超声波测距，超声乳化，超声波除垢，超声波电机等。
所有使用超声波的设备。
阻抗分析仪的特点是：易于使用，指标和图形的组合，准确的参数，低廉的价格，以及非常好的生产指导。
压电器件的阻抗测量是正确使用器件的先决条件。
对于压电器件，主要参数可通过阻抗分析仪获得，包括：谐振频率Fs，反谐振频率Fp，半功率点F1和F2，最大导纳Gmax，静态电容C0，动态电抗R1，动态电容C1。
动态电感L1，自由电容CT，自由介电常数，机械品质因数Qm，机电耦合系数Keff，Kp，K31，K33等，可绘制出压电器件的五条特性曲线(导纳特性图，阻抗特性图)，导纳极坐标图，阻抗极坐标图，对数图)。
